高低溫試驗(yàn)箱與冷熱沖擊試驗(yàn)箱的不同
更新日期：2015-11-30 點(diǎn)擊：2033
高低溫試驗(yàn)箱與冷熱沖擊試驗(yàn)箱的不同
高低溫試驗(yàn)箱和冷熱沖擊試驗(yàn)箱都可以做高溫和低溫試驗(yàn)，但他們倆之間還存在一定的區(qū)別。
首先來(lái)看一下高低溫試驗(yàn)箱：高低溫試驗(yàn)箱是用于電工電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變?cè)囼?yàn)。還可以對(duì)電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。
而冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要是針對(duì)電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。此試驗(yàn)設(shè)備主要是用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后通過(guò)檢測(cè)來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定以及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。
